設計理念
透過光學望遠鏡頭對準物體焦距後，再利用高反射鏡將反射之十字線刻度與接目鏡上之刻度進行差異性比對所得之座標差繪製成曲線圖表示。
尺規設計
此系統設計兩種光學十字線刻劃片經平行光學反射後使用 0.5 秒測微器比對其座標差後再將數據繪製於圖表幾何補償線性 (X 尺規) 及平面 (Y 尺規)。
儀器特徵
* 6 B : 明視野型式觀測
<一般場合適用>
* 6 D : 暗視野型式觀測
<逆光、低反光平面或小平面反射鏡使用>
* 精確測定相等距 離之X/Y座標差， 並同時繪製測定座標差數據。
* 焦距補償調整設備；上/下/左/右微調機構 。
* 高效率測定 -- 現場使用時不需穩定環境因素及不會因人員走動而中斷測定動作或影響測定精 度。
